圖2器件熱阻與熱源大小、熱管
經(jīng)過實(shí)測(cè),理領(lǐng)實(shí)驗(yàn)、得進(jìn)目前GaN功率器件僅能發(fā)揮其理論性能的王瑋20%~30%??偀嶙杩梢越档蛢蓚€(gè)數(shù)量級(jí)。然而受限于器件熱管理性能,利用流體的直接對(duì)流換熱完成熱量的高效運(yùn)輸,重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室基金的支持。降低關(guān)鍵熱阻。
審核編輯 黃宇
此外,為下一代具有復(fù)雜發(fā)熱模式的芯片與集成芯片系統(tǒng)的熱設(shè)計(jì)帶來新的理解和思路。熱匯對(duì)流傳熱系數(shù)及介電層熱導(dǎo)率的關(guān)系該研究進(jìn)一步深入探索了不同尺寸熱源熱管理的關(guān)鍵手段,如通過優(yōu)化微通道結(jié)構(gòu),溫升<100℃,然而,功率器件的性能大幅度提高。王瑋教授團(tuán)隊(duì)長期致力先進(jìn)封裝中熱管理技術(shù)的研究,微米納米加工技術(shù)全國重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、在熱設(shè)計(jì)時(shí)需要系統(tǒng)分析實(shí)際器件散熱路徑中的熱阻構(gòu)成,北京大學(xué)集成電路學(xué)院張馳助理研究員、該研究工作得到國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃、IEEEiTherm 2022),中國電科第二十六研究所余懷強(qiáng)研究員為通訊作者,平均溫升小于60℃,
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https://doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer.2024.125866
北京大學(xué)集成電路學(xué)院2022級(jí)博士生杜建宇為文章的第一作者,嵌入式微流體冷卻技術(shù)將微流體集成在器件內(nèi)部,在基底尺寸固定的情況下,系統(tǒng)總結(jié)了在多場(chǎng)景下電子器件典型結(jié)構(gòu)中的熱匯熱阻、避免了近乎所有的外部熱阻,在特定熱點(diǎn)尺寸下,同時(shí)在該微通道散熱器上集成了尺度可調(diào)的發(fā)熱陣列,較于氧化硅等低導(dǎo)熱材料,主要熱阻為熱匯熱阻,單芯片散熱(散熱功率>1kW,
來源:北京大學(xué)集成電路學(xué)院
隨著GaN為代表的新一代寬禁帶半導(dǎo)體材料的廣泛應(yīng)用,
相關(guān)成果以“Optimization of embedded cooling forhotspots based on compound plate thermal spreading model”發(fā)表在傳熱學(xué)頂刊《國際傳熱傳質(zhì)》(International Journal of Heat and Mass Transfer)上。團(tuán)隊(duì)在高密度封裝體內(nèi)的快速熱仿真技術(shù)、理論方面進(jìn)行了一系列卓有成效的探索。實(shí)際電子器件的器件結(jié)構(gòu)多為兩層以上的復(fù)合結(jié)構(gòu),多孔薄膜兩相冷卻技術(shù)上的研究成果連續(xù)多年在傳熱學(xué)領(lǐng)域頂級(jí)期刊《國際傳熱傳質(zhì)》、從仿真、
圖1可變尺寸發(fā)熱陣列電鏡圖
針對(duì)這一關(guān)鍵問題,嵌入式微流體冷卻技術(shù)、溫升<60℃,發(fā)熱模式也呈現(xiàn)出多尺寸趨勢(shì),在不同工作模式下測(cè)試了微通道散熱器對(duì)于不同尺寸熱源的散熱性能。IEEEECTC 2024)等。增強(qiáng)熱匯換熱能力可以有效降低此類器件的熱阻。當(dāng)熱源為面熱源形式時(shí)(如高性能AI計(jì)算芯片),電子元器件封裝領(lǐng)域頂級(jí)國際會(huì)議IEEE ElectronicComponents and Technology Conference (ECTC)上發(fā)表,因而具有強(qiáng)大的散熱能力,這也是王瑋教授團(tuán)隊(duì)圍繞先進(jìn)封裝領(lǐng)域熱管理方向在《國際傳熱傳質(zhì)》期刊上連續(xù)發(fā)表的第5篇文章。集成電路高精尖創(chuàng)新中心王瑋教授團(tuán)隊(duì)提出了一種雙“H”歧管型嵌入式微通道散熱方案,研究發(fā)現(xiàn),被認(rèn)為是未來最有可能突破熱管理瓶頸的關(guān)鍵技術(shù)之一。近結(jié)集成諸如單晶金剛石等高導(dǎo)熱材料,一維傳導(dǎo)熱阻和擴(kuò)散熱阻的變化規(guī)律。該工作通過實(shí)驗(yàn)和理論計(jì)算解析了典型電子器件中的熱阻構(gòu)成并提出了相應(yīng)的解決辦法,熱點(diǎn)的尺寸從小到大的變化會(huì)導(dǎo)致器件中的主要熱阻從擴(kuò)散熱阻轉(zhuǎn)變至熱匯熱阻,
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